Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Karim Inal : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00533813
Soumis le : lundi 8 novembre 2010-13:13:03
Dernière modification le : mardi 17 septembre 2024-15:45:08
Citer
Romuald Roucou, Vincent Fiori, Karim Inal, Hervé Jaouen. Mechanical Issues Induced by Electrical Wafer Sort: Correlations from actual tests, Nanoindentation and 3D Dynamic Modeling. Electronics System Integration Technology Conference ESTC 2010, Sep 2010, Berlin, Germany. pp.P0027, ⟨10.1109/ESTC.2010.5642863⟩. ⟨emse-00533813⟩
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