Selective image analysis for roughness characterisation

Pierre-Yves Duvivier; Vincent Mandrillon; Karim Inal

Journal Articles Tribology - Materials, Surfaces & Interfaces Year : 2010

Selective image analysis for roughness characterisation

(1, 2) , (2) , (1)

1
2

Pierre-Yves Duvivier

Function : Author
PersonId : 881778

Département Packaging et Supports Souples

Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information

Vincent Mandrillon

Function : Author
PersonId : 881766

Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information

Karim Inal

Function : Author
PersonId : 12170
IdHAL : karim-inal
IdRef : 081857918

Département Packaging et Supports Souples

CV

Karim Inal : Connect in order to contact the contributor

https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00533815

Submitted on : Monday, November 8, 2010-1:21:00 PM

Last modification on : Tuesday, February 28, 2023-3:36:21 PM

Dates and versions

emse-00533815 , version 1 (08-11-2010)

Identifiers

HAL Id : emse-00533815 , version 1

Cite

Pierre-Yves Duvivier, Vincent Mandrillon, Karim Inal. Selective image analysis for roughness characterisation. Tribology - Materials, Surfaces & Interfaces, 2010, 4 (3), pp.136-143. ⟨emse-00533815⟩

Selective image analysis for roughness characterisation

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