Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
François Le Texier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00638030
Soumis le : jeudi 3 novembre 2011-16:01:13
Dernière modification le : mardi 17 septembre 2024-15:45:54
Citer
François Le Texier, Jessica Mazuir, Man Su, Mohamed Saadaoui, Jean-Luc Liotard, et al.. Investigation of local stress around TSVs by micro-Raman spectroscopy and finite element simulation. International Interconnect Technology Conference and Materials for Advanced Metallization 2011, May 2011, Dresde, Germany. pp.1-3, ⟨10.1109/IITC.2011.5940351⟩. ⟨emse-00638030⟩
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