Optimisation des contrôles dans la fabrication des semiconducteurs

Justin Nduhura Munga 1, 2, * Stéphane Dauzère-Pérès 1 Claude Yugma 1 Philippe Vialletelle 2
* Auteur correspondant
1 SFL-ENSMSE - Département Sciences de la Fabrication et Logistique
2 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]
Mots-clés : Programmation linéaire contrôles risque semiconducteur
Type de document :
Communication dans un congrès
ROADEF (13ème congrès annuel de la société française de Recherche Opérationnelle et d'Aide à la Décision), Apr 2012, Angers, France. pp.1-2, 2012
Liste complète des métadonnées
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00687290
Contributeur : Justin Nduhura <>
Soumis le : jeudi 12 avril 2012 - 18:27:50
Dernière modification le : jeudi 30 novembre 2017 - 01:15:31

Identifiants

  • HAL Id : emse-00687290, version 1

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Citation

Justin Nduhura Munga, Stéphane Dauzère-Pérès, Claude Yugma, Philippe Vialletelle. Optimisation des contrôles dans la fabrication des semiconducteurs. ROADEF (13ème congrès annuel de la société française de Recherche Opérationnelle et d'Aide à la Décision), Apr 2012, Angers, France. pp.1-2, 2012. 〈emse-00687290〉

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