Optimisation des contrôles dans la fabrication des semiconducteurs

Justin Nduhura Munga 1, 2, * Stéphane Dauzère-Pérès 1 Claude Yugma 1 Philippe Vialletelle 2
* Corresponding author
1 SFL-ENSMSE - Département Sciences de la Fabrication et Logistique
2 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]
Mots-clés : Programmation linéaire contrôles risque semiconducteur
Document type :
Conference papers
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00687290
Contributor : Justin Nduhura <>
Submitted on : Thursday, April 12, 2012 - 6:27:50 PM
Last modification on : Monday, February 25, 2019 - 10:26:16 AM

Identifiers

  • HAL Id : emse-00687290, version 1

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Citation

Justin Nduhura Munga, Stéphane Dauzère-Pérès, Claude Yugma, Philippe Vialletelle. Optimisation des contrôles dans la fabrication des semiconducteurs. ROADEF (13ème congrès annuel de la société française de Recherche Opérationnelle et d'Aide à la Décision), Apr 2012, Angers, France. pp.1-2. ⟨emse-00687290⟩

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