Optimisation des contrôles dans la fabrication des semiconducteurs

Justin Nduhura Munga 1, 2, * Stéphane Dauzère-Pérès 1 Claude Yugma 1 Philippe Vialletelle 2
* Corresponding author
1 SFL-ENSMSE - Département Sciences de la Fabrication et Logistique
2 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]
Mots-clés : Programmation linéaire contrôles risque semiconducteur
Document type :
Conference papers
Complete list of metadatas
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00687290
Contributor : Justin Nduhura <>
Submitted on : Thursday, April 12, 2012 - 6:27:50 PM
Last modification on : Thursday, October 17, 2019 - 12:36:33 PM

Identifiers

  • HAL Id : emse-00687290, version 1

Collections

EMSE | SFL-ENSMSE | CMP-ENSMSE | INSTITUT-TELECOM

Citation

Justin Nduhura Munga, Stéphane Dauzère-Pérès, Claude Yugma, Philippe Vialletelle. Optimisation des contrôles dans la fabrication des semiconducteurs. ROADEF (13ème congrès annuel de la société française de Recherche Opérationnelle et d'Aide à la Décision), Apr 2012, Angers, France. pp.1-2. ⟨emse-00687290⟩

Export

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Share

Metrics

Record views

119

Contact

Informations

CCSD