Optimisation des contrôles dans la fabrication des semiconducteurs

Justin Nduhura Munga 1, 2, * Stéphane Dauzère-Pérès 1 Claude Yugma 1 Philippe Vialletelle 2
* Auteur correspondant
1 SFL-ENSMSE - Département Sciences de la Fabrication et Logistique
2 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]
Mots-clés : Programmation linéaire contrôles risque semiconducteur
Type de document :
Communication dans un congrès
ROADEF (13ème congrès annuel de la société française de Recherche Opérationnelle et d'Aide à la Décision), Apr 2012, Angers, France. pp.1-2, 2012
Liste complète des métadonnées
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00687290
Contributeur : Justin Nduhura <>
Soumis le : jeudi 12 avril 2012 - 18:27:50
Dernière modification le : mardi 23 octobre 2018 - 14:36:10

Identifiants

  • HAL Id : emse-00687290, version 1

Collections

EMSE | SFL-ENSMSE | CMP-ENSMSE

Citation

Justin Nduhura Munga, Stéphane Dauzère-Pérès, Claude Yugma, Philippe Vialletelle. Optimisation des contrôles dans la fabrication des semiconducteurs. ROADEF (13ème congrès annuel de la société française de Recherche Opérationnelle et d'Aide à la Décision), Apr 2012, Angers, France. pp.1-2, 2012. 〈emse-00687290〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

94

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD