X-ray diffraction microscopy: emerging imaging techniques for nondestructive analysis of crystalline materials from the millimetre down to the nanometre scale - Mines Saint-Étienne
Article Dans Une Revue Journal of Applied Crystallography Année : 2013

X-ray diffraction microscopy: emerging imaging techniques for nondestructive analysis of crystalline materials from the millimetre down to the nanometre scale

Mots clés

TOMOGRAPHY

Domaines

Matériaux

Géraldine Fournier-Moulin  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01067614

Soumis le : mardi 23 septembre 2014-16:45:44

Dernière modification le : mardi 17 septembre 2024-15:45:07

Consulter le texte intégral

Dates et versions

emse-01067614 , version 1 (23-09-2014)

Identifiants

Citer

András Borbély, Anke R. Kaysser-Pyzalla. X-ray diffraction microscopy: emerging imaging techniques for nondestructive analysis of crystalline materials from the millimetre down to the nanometre scale. Journal of Applied Crystallography, 2013, 46, pp.295-296. ⟨10.1107/S0021889813004160⟩. ⟨emse-01067614⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

EMSE CNRS INSTITUT-MINES-TELECOM
41 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More