XTOP: high-resolution X-ray diffraction and imaging
Vincent Favre-Nicolin
(1, 2)
,
Jose Baruchel
(3)
,
Hubert Renevier
(4)
,
Joel Eymery
(1, 5)
,
Andras Borbely
(6, 7, 8)
1
SP2M - UMR 9002 -
Service de Physique des Matériaux et Microstructures
2 NRS - Nanostructures et Rayonnement Synchrotron
3 ESRF - European Synchrotron Radiation Facility
4 LMGP - Laboratoire des matériaux et du génie physique
5 NPSC - Nanophysique et Semiconducteurs
6 LGF-ENSMSE - Laboratoire Georges Friedel
7 SMS-ENSMSE - Centre Science des Matériaux et des Structures
8 PMM-ENSMSE- Département Physique et Mécanique des Matériaux
2 NRS - Nanostructures et Rayonnement Synchrotron
3 ESRF - European Synchrotron Radiation Facility
4 LMGP - Laboratoire des matériaux et du génie physique
5 NPSC - Nanophysique et Semiconducteurs
6 LGF-ENSMSE - Laboratoire Georges Friedel
7 SMS-ENSMSE - Centre Science des Matériaux et des Structures
8 PMM-ENSMSE- Département Physique et Mécanique des Matériaux
Vincent Favre-Nicolin
- Fonction : Auteur
- PersonId : 909240
Hubert Renevier
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1087904
- IdHAL : hubert-renevier
- ORCID : 0000-0002-2317-9344
- IdRef : 061278920
Joel Eymery
- Fonction : Auteur
- PersonId : 21210
- IdHAL : joel-eymery
- ORCID : 0000-0002-4216-1166
- IdRef : 07759553X
Andras Borbely
- Fonction : Auteur
- PersonId : 850231