Equipment Condition Diagnosis and Fault Fingerprint Extraction in Semiconductor Manufacturing - Mines Saint-Étienne Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Equipment Condition Diagnosis and Fault Fingerprint Extraction in Semiconductor Manufacturing

Hamideh Rostami
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1021551
Département Sciences de la Fabrication et Logistique
Jakey Blue
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 2172
  • IdHAL : jakey-blue
Département Sciences de la Fabrication et Logistique
Claude Yugma
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 868326
Département Sciences de la Fabrication et Logistique

Domaines

Intelligence artificielle [cs.AI] Base de données [cs.DB] Traitement du signal et de l'image [eess.SP]

Hamideh Rostami  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01621963

Soumis le : lundi 23 octobre 2017-21:39:14

Dernière modification le : mardi 28 février 2023-15:36:23

Fichier non déposé

Dates et versions

emse-01621963 , version 1 (23-10-2017)

Identifiants

  • HAL Id : emse-01621963 , version 1

Citer

Hamideh Rostami, Jakey Blue, Claude Yugma. Equipment Condition Diagnosis and Fault Fingerprint Extraction in Semiconductor Manufacturing. IEEE International Conferenc on Machine Learning and Applications (ICMLA), Dec 2016, Anaheim, United States. ⟨emse-01621963⟩

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