Communication Dans Un Congrès
Année : 2017
Hamideh Rostami : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01621974
Soumis le : lundi 23 octobre 2017-21:54:22
Dernière modification le : mardi 28 février 2023-15:36:23
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : emse-01621974 , version 1
Citer
Hamideh Rostami, Jakey Blue, Claude Yugma. Equipment Deterioration Prognosis and Fault Diagnosis in Semiconductor Manufacturing. European advanced process control and manufacturing (apc|m) Conference, Apr 2017, Dublin, Ireland. ⟨emse-01621974⟩
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