Smart dynamic sampling for wafer at risk reduction in semiconductor manufacturing - Mines Saint-Étienne
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Smart dynamic sampling for wafer at risk reduction in semiconductor manufacturing

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Stéphane Dauzère-Pérès  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01792292

Soumis le : mardi 15 mai 2018-13:01:06

Dernière modification le : mardi 17 septembre 2024-15:45:31

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emse-01792292 , version 1 (15-05-2018)

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Citer

Sylvain Housseman, Stéphane Dauzère-Pérès, Gloria Rodriguez-Verjan, Jacques Pinaton. Smart dynamic sampling for wafer at risk reduction in semiconductor manufacturing. 2014 IEEE International Conference on Automation Science and Engineering (CASE), Aug 2014, Taipei, Taiwan. ⟨10.1109/CoASE.2014.6899414⟩. ⟨emse-01792292⟩

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