Laser testing of a double-access BBICS architecture with improved SEE detection capabilities - Mines Saint-Étienne
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Laser testing of a double-access BBICS architecture with improved SEE detection capabilities

Résumé

The paper reports the experimental validation of a new Bulk Built-In Current Sensor (BBICS) designed and implemented in a 40nm CMOS technology. The double-access architecture provides improved SEE detection as confirmed by laser experiments.

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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Soumis le : mercredi 8 août 2018-15:56:16

Dernière modification le : mardi 24 septembre 2024-10:18:14

Archivage à long terme le : vendredi 9 novembre 2018-13:23:50

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Dates et versions

emse-01855833 , version 1 (08-08-2018)

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Citer

Clément Champeix, Jean-Max Dutertre, Vincent Pouget, Bruno Robisson, Mathieu Lisart, et al.. Laser testing of a double-access BBICS architecture with improved SEE detection capabilities. 2016 16th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2016, Bremen, Germany. ⟨10.1109/RADECS.2016.8093172⟩. ⟨emse-01855833⟩

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