Persistence and dark current characterization on HgCdTe Short Wave Infrared imagers for astronomy at CEA and Lynred - CEA - Université Paris-Saclay Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering Année : 2022

Persistence and dark current characterization on HgCdTe Short Wave Infrared imagers for astronomy at CEA and Lynred

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Le Goff et al. - 2020 - SPIE - Persistence and dark current characterization on HgCdTe short wave infrared imagers for astronomy at CEA.pdf (1.52 Mo) Télécharger le fichier
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Soumis le : mardi 14 mai 2024-17:16:36

Dernière modification le : vendredi 17 mai 2024-03:18:51

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cea-04575235 , version 1 (14-05-2024)

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Citer

T Le Goff, N Baier, O Gravrand, O Boulade. Persistence and dark current characterization on HgCdTe Short Wave Infrared imagers for astronomy at CEA and Lynred. Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2022, X-Ray, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy IX, 11454, ⟨10.1117/12.2560338⟩. ⟨cea-04575235⟩

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