Time dependence investigation of the electrical resistance of Au / Au thin film micro contacts

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Communication dans un congrès
25th International Conference on Electrical Contacts & 56th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2010, Charleston, United States. pp.58-64, 2010, 〈10.1109/HOLM.2010.5619563〉
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00533805
Contributeur : Karim Inal <>
Soumis le : lundi 8 novembre 2010 - 12:58:10
Dernière modification le : mercredi 14 février 2018 - 14:06:47

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Pierre-Yves Duvivier, Vincent Mandrillon, Karim Inal. Time dependence investigation of the electrical resistance of Au / Au thin film micro contacts. 25th International Conference on Electrical Contacts & 56th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2010, Charleston, United States. pp.58-64, 2010, 〈10.1109/HOLM.2010.5619563〉. 〈emse-00533805〉

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