Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Christian Ernst : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00554762
Soumis le : mardi 11 janvier 2011-12:07:04
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : emse-00554762 , version 1
Citer
Alain Casali, Christian Ernst. A KDD Model to Discover Correlated Parameters in Semiconductor Manufacturing Processes. 10th European Conference on Advanced Equipment Control / Advanced Process Control, Apr 2010, Catania, Italy. ⟨emse-00554762⟩
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