Semiconductor Yield Loss' Causes Identification : A Data Mining Approach

Hasna Barkia 1, 2, 3 Xavier Boucher 1, 3 Rodolphe Le Riche 4 Marie-Agnès Girard 1, 3 Philippe Beaune 5
4 DEMO
LIMOS - Laboratoire d'Informatique, de Modélisation et d'optimisation des Systèmes, DEMO-ENSMSE - Département Décision en Entreprise : Modélisation, Optimisation, LCG-ENSMSE - UMR 5146 - Laboratoire Claude Goux
Type de document :
Communication dans un congrès
2013 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM2013), Dec 2013, Bangkok, Thailand. pp.article no. IEEM13-P-0503, 2013
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Contributeur : Florent Breuil <>
Soumis le : lundi 2 septembre 2013 - 09:26:42
Dernière modification le : mardi 17 octobre 2017 - 12:08:07

Identifiants

  • HAL Id : emse-00856619, version 1

Citation

Hasna Barkia, Xavier Boucher, Rodolphe Le Riche, Marie-Agnès Girard, Philippe Beaune. Semiconductor Yield Loss' Causes Identification : A Data Mining Approach. 2013 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM2013), Dec 2013, Bangkok, Thailand. pp.article no. IEEM13-P-0503, 2013. 〈emse-00856619〉

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