Semiconductor Yield Loss' Causes Identification : A Data Mining Approach

Hasna Barkia 1, 2, 3, 4, 5 Xavier Boucher 1, 3, 4, 5 Rodolphe Le Riche 4, 5, 6, 7, 8 Marie-Agnès Girard 1, 3, 4, 5 Philippe Beaune 9, 4, 5, 10
1 PIESO-ENSMSE - Département Performance Industrielle et Environnementale des Systèmes et des Organisations
2 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]
3 EVS - Environnement Ville Société
4 Mines Saint-Étienne MSE - École des Mines de Saint-Étienne
5 FAYOL-ENSMSE - Institut Henri Fayol
6 DEMO-ENSMSE - Département Décision en Entreprise : Modélisation, Optimisation
7 LIMOS - Laboratoire d'Informatique, de Modélisation et d'Optimisation des Systèmes
8 CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique
9 ISCOD-ENSMSE - Département Informatique pour les Systèmes Coopératifs Ouverts et Décentralisés
10 LHC - Laboratoire Hubert Curien [Saint Etienne]
Document type :
Conference papers
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00856619
Contributor : Florent Breuil <>
Submitted on : Monday, September 2, 2013 - 9:26:42 AM
Last modification on : Thursday, January 23, 2020 - 1:35:55 AM

Identifiers

  • HAL Id : emse-00856619, version 1

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Citation

Hasna Barkia, Xavier Boucher, Rodolphe Le Riche, Marie-Agnès Girard, Philippe Beaune. Semiconductor Yield Loss' Causes Identification : A Data Mining Approach. 2013 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM2013), Dec 2013, Bangkok, Thailand. pp.article no. IEEM13-P-0503. ⟨emse-00856619⟩

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