A smart sampling algorithm to minimize risk dynamically

Type de document :
Communication dans un congrès
2010 21st Annual IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), Jul 2010, San Francisco, France. IEEE, 〈10.1109/ASMC.2010.5551470〉
Liste complète des métadonnées

https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01792330
Contributeur : Stéphane Dauzère-Pérès <>
Soumis le : mardi 15 mai 2018 - 13:24:04
Dernière modification le : mardi 23 octobre 2018 - 14:36:10

Identifiants

Collections

Citation

Stéphane Dauzère-Pérès, Jean-Loup Rouveyrol, Claude Yugma, Philippe Vialletelle. A smart sampling algorithm to minimize risk dynamically. 2010 21st Annual IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), Jul 2010, San Francisco, France. IEEE, 〈10.1109/ASMC.2010.5551470〉. 〈emse-01792330〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

46