LED Failure Localization Method due to Thermal Shock and Residual Stress Impact - Mines Saint-Étienne
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

LED Failure Localization Method due to Thermal Shock and Residual Stress Impact

Domaines

Matériaux

Géraldine Fournier-Moulin  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-02016680

Soumis le : mardi 12 février 2019-19:07:01

Dernière modification le : mardi 17 septembre 2024-15:45:10

Fichier non déposé

Dates et versions

emse-02016680 , version 1 (12-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : emse-02016680 , version 1

Citer

S. Nocairi, C. Roucoules, S. Sao-Joao, G. Kermouche, H. Klöcker. LED Failure Localization Method due to Thermal Shock and Residual Stress Impact. 2018 7th Electronic System-Integration Technology Conference (ESTC), Sep 2018, Dresden, Germany. pp.1-6. ⟨emse-02016680⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

EMSE CNRS INSTITUT-MINES-TELECOM
46 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More