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Conference papers
Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter
Loïc Zussa
1
Jean-Max Dutertre
1
Jessy Clédière
2
Bruno Robisson
3
3
Laboratoire Systèmes et Architectures Sécurisés (LSAS)
SAS-ENSMSE - Département Systèmes et Architectures Sécurisés, CEA-TECH-Reg - CEA Tech en régions
Loïc Zussa 1
Author
Jean-Max Dutertre 1
Author Employer institution : Ecole Nationale Supérieure des Mines de St Etienne IdHAL : jean-max-dutertre ORCID : https://orcid.org/0000-0002-2251-7815
Jessy Clédière 2
Author
Bruno Robisson 3
Author IdHAL : bruno-robisson
1
SAS-ENSMSE - Département Systèmes et Architectures Sécurisés (880, route de Mimet 13541 GARDANNE - FRANCE - France)
- Mines Saint-Étienne MSE - École des Mines de Saint-Étienne (158, Cours Fauriel - 42023 Saint Étienne cedex 2 - France)
- IMT - Institut Mines-Télécom [Paris] (37-39 Rue Dareau, 75014 Paris - France)
- CMP-GC (France)
2
CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (MINATEC 17, rue des Martyrs, 38054, Grenoble Cedex 9 - France)
- DRT (CEA) - Direction de Recherche Technologique (CEA) : DRT (France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRT (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
3
Laboratoire Systèmes et Architectures Sécurisés (LSAS) (France)
- SAS-ENSMSE - Département Systèmes et Architectures Sécurisés (880, route de Mimet 13541 GARDANNE - FRANCE - France)
- Mines Saint-Étienne MSE - École des Mines de Saint-Étienne (158, Cours Fauriel - 42023 Saint Étienne cedex 2 - France)
- IMT - Institut Mines-Télécom [Paris] (37-39 Rue Dareau, 75014 Paris - France)
- CMP-GC (France)
- Mines Saint-Étienne MSE - École des Mines de Saint-Étienne (158, Cours Fauriel - 42023 Saint Étienne cedex 2 - France)
- CEA-TECH-Reg - CEA Tech en régions (CEA Grenoble
17 rue des Martyrs
38054 Grenoble Cedex 9 - France)
- DRT (CEA) - Direction de Recherche Technologique (CEA) : DRT (France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRT (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
- DRT (CEA) - Direction de Recherche Technologique (CEA) : DRT (France)
Abstract : Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter
Document type :
Conference papers
Complete list of metadatas
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01099039
Contributor : Jean-Max Dutertre <>
Submitted on : Friday, January 9, 2015 - 3:00:24 PM
Last modification on : Wednesday, June 24, 2020 - 4:19:29 PM
Contributor : Jean-Max Dutertre <>
Submitted on : Friday, January 9, 2015 - 3:00:24 PM
Last modification on : Wednesday, June 24, 2020 - 4:19:29 PM
Identifiers
- HAL Id : emse-01099039, version 1
Collections
EMSE | CEA | SAS-ENSMSE | DRT | LETI | CEA-GRE | INSTITUT-TELECOM
Citation
Loïc Zussa, Jean-Max Dutertre, Jessy Clédière, Bruno Robisson. Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter. TRUDEVICE Workshop (colocated with ETS 2014), May 2014, Paderborn, Germany. ⟨emse-01099039⟩
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