Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter - Mines Saint-Étienne Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter

Résumé

Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique
C_2014_1_ZUSSA_TRUDEVICE_2014.pdf (2.18 Mo) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Jean-Max Dutertre  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01099039

Soumis le : vendredi 9 janvier 2015-15:00:24

Dernière modification le : mercredi 3 avril 2024-11:14:11

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Dates et versions

emse-01099039 , version 1 (09-01-2015)

Identifiants

  • HAL Id : emse-01099039 , version 1

Citer

Loïc Zussa, Jean-Max Dutertre, Jessy Clédière, Bruno Robisson. Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter. TRUDEVICE Workshop (colocated with ETS 2014), May 2014, Paderborn, Germany. ⟨emse-01099039⟩

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