Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter

Loïc Zussa 1 Jean-Max Dutertre 1 Jessy Clédière 2 Bruno Robisson 3
1 SAS-ENSMSE - Département Systèmes et Architectures Sécurisés
2 CEA-LETI - Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information
3 Laboratoire Systèmes et Architectures Sécurisés (LSAS)
SAS-ENSMSE - Département Systèmes et Architectures Sécurisés, CEA-TECH-Reg - CEA Tech en régions
Abstract : Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter
Type de document :
Communication dans un congrès
TRUDEVICE Workshop (colocated with ETS 2014), May 2014, Paderborn, Germany. 2014
Liste complète des métadonnées
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01099039
Contributeur : Jean-Max Dutertre <>
Soumis le : vendredi 9 janvier 2015 - 15:00:24
Dernière modification le : lundi 1 octobre 2018 - 16:12:03

Annexe

Identifiants

  • HAL Id : emse-01099039, version 1

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Citation

Loïc Zussa, Jean-Max Dutertre, Jessy Clédière, Bruno Robisson. Analysis of a fault injection mechanism related to voltage glitches using an on-chip voltmeter. TRUDEVICE Workshop (colocated with ETS 2014), May 2014, Paderborn, Germany. 2014. 〈emse-01099039〉

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