Discussion on the Model of Laser Induced Faults in SRAM Memory cells

Abstract : Discussion on the Model of Laser Induced Faults in SRAM Memory cells
Type de document :
Communication dans un congrès
Forth International Workshop on Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design, COSADE 2013, Mar 2013, Paris, France. 2013
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01109302
Contributeur : Jean-Max Dutertre <>
Soumis le : mercredi 28 janvier 2015 - 13:26:33
Dernière modification le : jeudi 9 août 2018 - 12:04:05

Identifiants

  • HAL Id : emse-01109302, version 1

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Citation

Cyril Roscian, Alexandre Sarafianos, Jean-Max Dutertre, Assia Tria, Mathieu Lisart. Discussion on the Model of Laser Induced Faults in SRAM Memory cells. Forth International Workshop on Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design, COSADE 2013, Mar 2013, Paris, France. 2013. 〈emse-01109302〉

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