Discussion on the Model of Laser Induced Faults in SRAM Memory cells
Résumé
Discussion on the Model of Laser Induced Faults in SRAM Memory cells
| Format | Présentation |
|---|---|
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
Communication Dans Un Congrès
Année : 2013
Jean-Max Dutertre : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01109302
Soumis le : mercredi 28 janvier 2015-13:26:33
Dernière modification le : mercredi 3 avril 2024-11:14:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : emse-01109302 , version 1
Citer
Cyril Roscian, Alexandre Sarafianos, Jean-Max Dutertre, Assia Tria, Mathieu Lisart. Discussion on the Model of Laser Induced Faults in SRAM Memory cells. Forth International Workshop on Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design, COSADE 2013, Mar 2013, Paris, France. ⟨emse-01109302⟩
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