XTOP: high-resolution X-ray diffraction and imaging

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Journal of Applied Crystallography, International Union of Crystallography, 2015, 48 (Part : 3), pp.620-620. 〈10.1107/S160057671500895X 〉
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Contributeur : Géraldine Fournier-Moulin <>
Soumis le : lundi 3 avril 2017 - 16:10:40
Dernière modification le : mercredi 12 septembre 2018 - 19:20:05

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Vincent Favre-Nicolin, Jose Baruchel, Hubert Renevier, Joel Eymery, Andras Borbely. XTOP: high-resolution X-ray diffraction and imaging. Journal of Applied Crystallography, International Union of Crystallography, 2015, 48 (Part : 3), pp.620-620. 〈10.1107/S160057671500895X 〉. 〈emse-01500752〉

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