XTOP: high-resolution X-ray diffraction and imaging

Vincent Favre-Nicolin; Jose Baruchel; Hubert Renevier; Joel Eymery; Andras Borbely

doi:10.1107/S160057671500895X

XTOP: high-resolution X-ray diffraction and imaging

Vincent Favre-Nicolin ¹ Jose Baruchel ² Hubert Renevier ³ Joel Eymery ¹ Andras Borbely ^{4, 5, 6}

1 SP2M - UMR 9002 - Service de Physique des Matériaux et Microstructures

2 ESRF - European Synchrotron Radiation Facility

3 LMGP - Laboratoire des matériaux et du génie physique

4 LGF-ENSMSE - UMR 5307 - Laboratoire Georges Friedel

5 SMS-ENSMSE - Centre Science des Matériaux et des Structures

6 PMM-ENSMSE- Département Physique et Mécanique des Matériaux

Type de document :

Article dans une revue

Journal of Applied Crystallography, International Union of Crystallography, 2015, 48 (Part : 3), pp.620-620. 〈10.1107/S160057671500895X 〉

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Matériaux

Liste complète des métadonnées

https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01500752
Contributeur : Géraldine Fournier-Moulin <>
Soumis le : lundi 3 avril 2017 - 16:10:40
Dernière modification le : vendredi 27 avril 2018 - 10:58:11

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