XTOP: high-resolution X-ray diffraction and imaging

Vincent Favre-Nicolin 1 Jose Baruchel 2 Hubert Renevier 3 Joel Eymery 1 Andras Borbely 4, 5, 6
1 SP2M - UMR 9002 - Service de Physique des Matériaux et Microstructures
2 European Synchrotron Radiation Facility
3 LMGP - Laboratoire des matériaux et du génie physique
4 LGF-ENSMSE - UMR 5307 - Laboratoire Georges Friedel
5 SMS-ENSMSE - Centre Science des Matériaux et des Structures
6 PMM-ENSMSE- Département Physique et Mécanique des Matériaux
Type de document :
Article dans une revue
Journal of Applied Crystallography, International Union of Crystallography, 2015, 48 (Part : 3), pp.620-620. 〈10.1107/S160057671500895X 〉
Liste complète des métadonnées
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01500752
Contributeur : Géraldine Fournier-Moulin <>
Soumis le : lundi 3 avril 2017 - 16:10:40
Dernière modification le : vendredi 9 mars 2018 - 16:36:01

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EMSE | LMGP | INAC-SP2M | DSM-INAC | CEA | INC-CNRS | UGA | CEA-DRF

Citation

Vincent Favre-Nicolin, Jose Baruchel, Hubert Renevier, Joel Eymery, Andras Borbely. XTOP: high-resolution X-ray diffraction and imaging. Journal of Applied Crystallography, International Union of Crystallography, 2015, 48 (Part : 3), pp.620-620. 〈10.1107/S160057671500895X 〉. 〈emse-01500752〉

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